了解奧林巴斯XRF中的常用“密語(yǔ)”,,為檢測(cè)加速
查看X射線熒光(XRF)相關(guān)的內(nèi)容時(shí),您可能會(huì)留意到文章里面經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)很多的英文略縮術(shù)語(yǔ),。您可以利用這份快速指南,,來了解這些您經(jīng)常會(huì)在網(wǎng)站上看到或者在工作中聽到的略縮術(shù)語(yǔ)。
XRF = X射線熒光,。一種快速的無(wú)損檢測(cè)方法,。用來測(cè)量材料的化學(xué)元素組成。類似的略縮術(shù)語(yǔ)有:
EDXRF = 能量色散型X射線熒光光譜法,??焖佟⒔?jīng)濟(jì)的X射線熒光技術(shù),,普遍被運(yùn)用在手持式的X射線熒光分析儀中,。
WDXRF = 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜法。實(shí)驗(yàn)室用的X射線熒光技術(shù),,相比較于利用能量色散型X射線熒光光譜法的分析儀,,其價(jià)格更加昂貴。
HHXRF?= 手持式X射線熒光分析儀
pXRF?= 便攜式X射線熒光分析儀
手持式X射線熒光分析儀一般使用兩種類型的探測(cè)器:
PIN = 硅PIN二極管探測(cè)器,。相較SDD探測(cè)器,,是一種較為早期、便宜,、探測(cè)效率慢的一種探測(cè)器,。
SDD =硅漂移探測(cè)器。一種新型探測(cè)器,,相較PIN探測(cè)器,,計(jì)數(shù)率為其的10倍。?
LE =輕元素,。輕元素被激發(fā)時(shí)發(fā)射的X射線能量很低,,所以難以被我們的探測(cè)器接收到,。
在判定LE的含義時(shí)需要結(jié)合上下文的內(nèi)容。因?yàn)槲覀円步?jīng)常將手持式XRF分析儀能夠測(cè)量到的一些輕元素也稱作為L(zhǎng)E,,包括:
鎂 (Mg)
鋁 (Al)
硅 (Si)
磷 (P)
硫 (S)
氯 (Cl)
鉀 (K)
鈣 (Ca)
上述輕元素只有利用SDD探測(cè)器才能檢測(cè),。
在很多情況下, LE 也代表在化學(xué)元素周期表中原子序數(shù)低的元素,, 這些元素我們無(wú)法利用手持式XRF分析儀進(jìn)行檢測(cè),,比如鈉(Na), 碳 (C),, 氫 (H),,以及氧 (O)。
氫(H)到鈉(Na): 這些LE (藍(lán)色區(qū)域內(nèi)的) 我們無(wú)法使用手持式XRF分析儀探測(cè)到,。鎂 (Mg) 到鈧 (Sc): 這些元素 (黃色區(qū)域內(nèi)) 無(wú)法用PIN探測(cè)器檢測(cè)—需要使用搭載了SDD探測(cè)器的手持式XRF分析儀,。
FP =基本參數(shù)法。一種常用于X射線熒光技術(shù)的計(jì)算/校準(zhǔn)的算法,。它根據(jù)原子的基本物理特性,,將不同的元素之間的干擾效應(yīng)也納入了算法中。當(dāng)分析一個(gè)具有高密度的樣本時(shí)(比如大多數(shù)的金屬材料),,這會(huì)是一個(gè)非常有效的方法。
CN =康普頓算法,。一種相對(duì)簡(jiǎn)單的計(jì)算/校準(zhǔn)的算法,,適用于低密度樣本的分析。
PMI = 材料可靠性鑒定,。用戶在需要判定一些設(shè)備中的重要組成部件是否由某種特定的合金組成的時(shí)候需要對(duì)這些設(shè)備進(jìn)行PMI判定,, 比如:水管、閥門,、焊接處,、以及壓力容器。對(duì)一些特定的化學(xué)元素的含量進(jìn)行檢測(cè)和匹配,,快速的驗(yàn)證金屬牌號(hào),。
LOD = 檢出限。LOD表示最低可以探測(cè)到的某種元素的含量,。在含量非常低的時(shí)候,,設(shè)備會(huì)無(wú)法判定該元素的存在、或者給出其含量的數(shù)值,。
LOQ = 定量限,。LOQ大約是LOD的3倍,元素含量在這個(gè)限值以上時(shí),,給出的檢測(cè)結(jié)果的置信度很高,。
Vanta分析儀的型號(hào)
Vanta XRF分析儀型號(hào) 由3位英文字母構(gòu)成,,以描述不同的特征,對(duì)應(yīng)客戶不同的應(yīng)用和分析檢測(cè)的需求,。
3位英文字母分別體現(xiàn)了3個(gè)部分:Vanta,、所屬系列和X射線管的類型。舉例:VMR,、VCR,、VCA和VLW。在奧林巴斯的VMR型號(hào)中,,V指Vanta,、M指M系列、R指銠(Rh)靶X射線管,。
評(píng)論
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